GB 1772-1979 电子元器件失效率试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 10:17:28 浏览:8974
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基本信息
| 标准名称： | 电子元器件失效率试验方法 |
| 英文名称： | Determination of failure rate of electronic elements and components |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 电子元件综合 |
| ICS分类： | 电子学 >> 电子元件综合 |
| 发布部门： | 信息产业部（电子） |
| 发布日期： | 1979-09-25 |
| 实施日期： | 1980-03-01 |
| 首发日期： | 1979-09-25 |
| 作废日期： | 2005-10-14 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 电子部四所 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 0 |
适用范围
本标准规定了有可靠性指标的电子器件产品（以下简称产品）的定级、维持和升级试验程序。本标准适用于其寿命能合理地认为是服从指数分布，在本质上是同一设计、建立了可靠性质量管理和连续生产的产品。
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 电子元件综合 电子学 电子元件综合
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