SJ 2320-1983 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-11 00:46:03 浏览:9183
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基本信息
标准名称: | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 |
英文名称: | Method of analysis by emission spectrum of impurities in Titanium dioxide for use in electronic ceramics |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料 |
替代情况: | 被SJ/T 10552-1994代替 |
发布日期: | |
实施日期: | 1988-06-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 3页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料
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